2月15日上午,经开区市场监管局会同池州市计量测试所对园区晟华光学公司进行走访,对该公司检测需求有了进一步了解。晟华光学负责人表示半导体企业在二次元检测仪、三坐标测量仪、膜厚仪等方面存在共性检测问题。市计量所汪所长就该问题向企业介绍了安徽省半导体产业计量测试中心实验室(省级)改造项目,该项目旨在为促进计量测试与半导体产业的深度融合,加强全市产业计量测试服务体系建设,最大程度地解决半导体企业存在的计量测试共性问题。
会上,区市场监管局负责人就知识产权创造、运用及保护,以及第六届市政府质量奖预申报事宜与企业负责人进行了深入沟通交流。(通讯员 陈伟杰)
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